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Le JEDEC publie la norme LPDDR6 - les débits de données atteignent 14 400 MT/s

Le JEDEC publie la norme de mémoire LPDDR6 (Source de l'image : CXMT)
Le JEDEC publie la norme de mémoire LPDDR6 (Source de l'image : CXMT)
La spécification LPDDR6 du JEDEC fait passer la mémoire mobile et IA à 10 667-14 400 MT/s (28,5-38,4 Go/s) avec des voies à double sous-canal et des modes d'alimentation dynamiques. Elle réduit les tensions du cœur et ajoute des fonctions ECC, de parité et d'autotest on-die pour l'automobile et les centres de données, avec le soutien des principaux fabricants de puces pour un déploiement rapide.

Le JEDEC a publié https://www.jedec.org/news/pressreleases/jedec%C2%AE-releases-new-lpddr6-standard-enhance-mobile-and-ai-memory-performance JESD209-6, officialisant la norme LPDDR6 cinq ans après l'arrivée de la norme DDR5 sur le marché. La nouvelle spécification porte les débits de données maximaux à 10 667-14 400 MT/s, ce qui équivaut à une bande passante d'environ 28,5-38,4 Go/s, tout en visant des budgets d'énergie plus faibles exigés par les appareils mobiles et les systèmes d'intelligence artificielle de pointe.

Les gains de performance proviennent d'une conception à double sous-canal : chaque puce porte un canal de 24 bits, et chaque canal est divisé en deux sous-canaux de 12 bits. Cette configuration raccourcit les chemins d'accès, réduit la latence et maintient une granularité minimale de 32 octets. Le contrôle à la volée de la longueur des salves permet de passer en toute transparence de transferts de 32 à 64 octets.

L'efficacité énergétique est améliorée par la réduction de la tension des cœurs et la mise à l'échelle dynamique de la tension et de la fréquence pour une faible consommation, qui réduit les niveaux d'alimentation pendant les charges de travail légères. Les modes d'efficacité statique et dynamique limitent davantage les circuits actifs lorsque la demande est faible, et l'architecture prend en charge l'auto-rafraîchissement partiel pour réduire la consommation en veille.

Les avancées en matière de fiabilité comprennent l'ECC on-die, la protection programmable des liens, le comptage des activations par rangée et le découpage des méta-régions pour les tâches critiques. La parité commande/adresse optionnelle et les fonctions d'autotest intégrées renforcent la couverture des défaillances, répondant ainsi aux exigences plus strictes des environnements automobiles et des centres de données.

La réponse de l'industrie a été rapide. Les fabricants de puces, les fournisseurs de propriété intellectuelle et les fournisseurs d'équipements de test, dont Cadence, Synopsys, MediaTek, Qualcomm, Samsung, Micron et SK Hynix, se sont engagés à soutenir la technologie, ce qui indique une adoption rapide dans les smartphones, les PC clients, les serveurs de périphérie et les systèmes embarqués dans les véhicules.

Source(s)

JEDEC (en anglais)

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Nathan Ali, 2025-07-11 (Update: 2025-07-12)